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Growth and characterization of Si---Ge atomic layer superlattices

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/0040-6090(89)90425-2
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Thin solid films 183, nº December 30, (1989) : 17–24.
Langueanglais
Numéro du CNRCNRC-INMS-1118
Numéro NPARC8897217
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Identificateur de l’enregistrement4343091b-e661-4e53-821f-b191a857bfd0
Enregistrement créé2009-04-22
Enregistrement modifié2020-03-17
Date de modification :