DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927610058630 |
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Auteur | Rechercher : Zhang, Huairuo1; Rechercher : Egerton, Ray F.1; Rechercher : Malac, Marek1 |
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Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada
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Format | Texte, Article |
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Conférence | Microscopy and Microanalysis 2010, August 1–5, 2010, Portland, Oregon |
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Résumé | Thickness measurement of nanoscale objects is critical in many applications but when the thickness to be measured falls below about 10 nm, the usual methods of conventional transmission electron microscopy (CTEM) are of limited use. |
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Date de publication | 2010-07-01 |
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Maison d’édition | Cambridge University Press |
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Dans | |
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Langue | anglais |
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Publications évaluées par des pairs | Oui |
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Identificateur de l’enregistrement | 44609ed2-8d2a-4920-9ca7-a3ae765f9b54 |
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Enregistrement créé | 2020-05-28 |
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Enregistrement modifié | 2020-05-28 |
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