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Porous Semiconductor Micropatterns Formed on Focussed Ion Beam Implants

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1023/A:1009655324979
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Journal of Porous Media 7, nº 1-3 (2000) : 233–237.
Numéro NPARC12744888
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Identificateur de l’enregistrement44e174f6-7449-40c1-854a-e2e4eaa60e44
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-03-26
Date de modification :