Surface cleaning and preparation in AlGaN/GaN-based HEMT processing as assessed by X-ray photoelectron spectroscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.01.016
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Numéro NPARC12744268
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrement4639c7b3-057d-4307-b85c-cb87bf463e10
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-05-10
Date de modification :