| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927614002876 |
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| Auteur | Rechercher : Malac, Marek1; Rechercher : Beleggia, Marco; Rechercher : Egerton, Ray1; Rechercher : Kawasaki, Masahiro; Rechercher : Berge, Michael1; Rechercher : Okura, Yoshio; Rechercher : Ishikawa, Isamu; Rechercher : Motoki, Kohei |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | Microscopy & Microanalysis 2014, August 3-7, 2014, Hartford, Connecticut, United States |
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| Résumé | Electrostatic charging of samples under electron beam irradiation in a TEM affects the observed contrast [1]. It can also be used to produce Zernike-like phase contrast when a suitable uniform thin film is placed in the back focal plane of the objective lens, referred to as a hole-free phase plate (HFPP) contrast [2]. Here we report the effect of heating and biasing on contrast transfer function. Our results may be relevant to sample charging and other implementations of thin-film type phase plates. |
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| Date de publication | 2014-08-27 |
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| Maison d’édition | Cambridge University Press |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Identificateur de l’enregistrement | 49a6ea45-f355-4f45-bd59-341da0ed0401 |
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| Enregistrement créé | 2020-02-29 |
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| Enregistrement modifié | 2024-05-15 |
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