| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927614010666 |
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| Auteur | Rechercher : Cui, Kai1; Rechercher : Bosnick, Ken1; Rechercher : Indoe, Rob1; Rechercher : Malac, Marek1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | Microscopy & Microanalysis 2014, August 3-7, 2014, Hartford, Connecticut, United States |
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| Résumé | Graphene appears to be a material with many potential applications. A robust and convenient method is therefore needed to evaluate the quality of graphene films. Raman spectroscopy is often used and is fast and inexpensive; however, the information content in the Raman spectrum is limited. We demonstrate an electron diffraction based method that can be routinely used to evaluate the quality of graphene thin films. |
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| Date de publication | 2014-08-27 |
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| Maison d’édition | Cambridge University Press |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Identificateur de l’enregistrement | 5543d2bc-a500-4a6c-b006-8b35d1109e31 |
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| Enregistrement créé | 2020-02-29 |
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| Enregistrement modifié | 2024-05-15 |
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