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X-ray and electrical characterization of optimized Ti/Al/Ti/Au ohmic contacts for AlGaN/GaN HEMTs

Par Conseil national de recherches du Canada

AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Conférence208th ECS Meeting, 16-21 October 2005, Los Angeles, California
Date de publication
Dans
  • ECS Transactions 1, nº 2 (2005) : 266–274.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12346239
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Identificateur de l’enregistrement60ce5016-953e-4bd5-9f91-9ece89e47a80
Enregistrement créé2009-09-17
Enregistrement modifié2020-04-07
Date de modification :