Development of environmental specimen holder for Hitachi S-5500 UHR SEM microscope

DOI	Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927611003047
Auteur	Rechercher : Dogel, S¹; Rechercher : Hoyle, D; Rechercher : Malac, M¹; Rechercher : Salomons, M¹; Rechercher : Mitsuhiro, N; Rechercher : Wolkow, R¹
Affiliation	Conseil national de recherches du Canada
Format	Texte, Article
Conférence	Microscopy & Microanalysis 2011, August 7-11, 2011, Nashville, Tennessee, United States
Résumé	Environmental electron microscopy allows samples and processes to be studied in-situ in a gaseous environment. In many cases a sample can be examined in an essentially natural state. There are sev-eral options available to conduct in-situ investigations. One route is to use a dedicated environmental SEM or TEM instrument while another is to use a specially designed environment holder separating the high vacuum of the electron microscope from the sample by thin membranes.
Date de publication	2011-08-11
Maison d’édition	Cambridge University Press
Dans	Microscopy and Microanalysis 17, nº S2 (11 août 2011) : 434–435.
Langue	anglais
Publications évaluées par des pairs	Oui
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Identificateur de l’enregistrement	645aa910-2780-462d-af17-29f9c4d68f1d
Enregistrement créé	2020-03-10
Enregistrement modifié	2024-05-15