Ellipsometric Characterization of the Optical Constants of Metals: Thin Film vs Nanoparticle
Ellipsometric Characterization of the Optical Constants of Metals: Thin Film vs Nanoparticle
Autre titre | Metallization of Polymers 2 |
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Auteur | Rechercher : 1; Rechercher : |
Éditeur | Rechercher : Sacher, E. |
Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Date de publication | 2002 |
Maison d’édition | Plenum Press |
Numéro NPARC | 12346775 |
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Identificateur de l’enregistrement | 66e4cc8e-b6c9-44d8-b755-931358b9ec13 |
Enregistrement créé | 2009-09-17 |
Enregistrement modifié | 2020-03-30 |
- Date de modification :