Photodegradation versus hot-electron impact for electrical tree inception at low electric fields
Photodegradation versus hot-electron impact for electrical tree inception at low electric fields
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/ICPADM.1991.172352 |
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Commanditaire | Rechercher : IEEE; Rechercher : ICPADM |
Format | Texte, Article |
Conférence | Proceedings of the 3rd International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials, July 8-12, 1991, Tokyo, Japan |
ISBN | 0879425687 |
Langue | anglais |
Numéro du CNRC | NRC-INMS-1746 |
Numéro NPARC | 8897093 |
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Identificateur de l’enregistrement | 70a96f9e-bca0-49e3-8a99-ea8731d4657d |
Enregistrement créé | 2009-04-22 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :