Electron microscopy characterization at NINT
Electron microscopy characterization at NINT
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Affiliation |
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Format | Texte, Allocution |
Conférence | 34th Annual Meeting of the Microscopical Society of Canada, June 12–15, 2007, Edmonton, Alberta, Canada |
Date de publication | 2007-06-15 |
Maison d’édition | Microscopical Society of Canada |
Langue | anglais |
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Identificateur de l’enregistrement | 785317af-51dd-46b5-8ec6-84656760be84 |
Enregistrement créé | 2021-09-20 |
Enregistrement modifié | 2021-09-20 |
- Date de modification :