Stress distribution in patterned-substrate InGaAs/InP

Par Conseil national de recherches du Canada

Autre titreSPIE
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
ConférenceSPIE Optoelectronics Materials and Devices II, 2000, Taipei
Numéro NPARC12346219
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Identificateur de l’enregistrement878cd159-8c93-4580-b0e5-a46fb592af51
Enregistrement créé2009-09-17
Enregistrement modifié2020-04-16
Date de modification :