| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.7567/JJAPS.32S2.134 |
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| Auteur | Rechercher : Tyliszczak, T.; Rechercher : Aebi, P.; Rechercher : Hitchcock, A. P.; Rechercher : Jackman, T. E.1; Rechercher : Baribeau, J-M.1; Rechercher : Lockwood, D. J.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | XAFS VII, the 7th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure, August 23-29, 1992, Kobe, Japan |
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| Sujet | EXAFS; multi-file analysis; Si-Ge interface; atomic-layer superlattices; epitaxy |
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| Résumé | Procedures for constrained simultaneous non-linear least squares curve fits of multiple EXAFS spectra are described and their advantages discussed. The techniques are illustrated by polarisation-dependent GeK EXAFS studies of buried Ge-Si interfaces in strained layer [(Si)m(Ge)n]p/Si(100) superlattices grown by molecular beam epitaxy (MBE). |
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| Date de publication | 1993-01-01 |
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| Maison d’édition | IOP Publishing |
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| Dans | |
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| Série | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 23000867 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 87b05cec-9cb9-4f7b-92fb-c24f560cb749 |
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| Enregistrement créé | 2016-10-26 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-24 |
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