Surface relaxations, current enhancements, and absolute distances in high resolution scanning tunneling microscopy
Surface relaxations, current enhancements, and absolute distances in high resolution scanning tunneling microscopy
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.87.236104 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Résumé | |
Date de publication | 2001-12 |
Dans | |
Langue | anglais |
Publication du CNRC | Cette publication n’est pas du CNRCCe sont des publications qui ont été rédigées par un auteur du CNRC, mais avant que celui-ci soit employé du CNRC. |
Numéro NPARC | 12339030 |
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Identificateur de l’enregistrement | 883598e5-d34c-4c2f-b4d4-f0cdb30bd102 |
Enregistrement créé | 2009-09-11 |
Enregistrement modifié | 2020-03-27 |
- Date de modification :