| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.3153954 |
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| Auteur | Rechercher : Matsik, S. G.; Rechercher : Jayasinghe, R. C.; Rechercher : Weerasekara, A. B.; Rechercher : Perera, A. G. U.; Rechercher : Linfield, E. H.; Rechercher : Khanna, S. P.; Rechercher : Lachab, M.; Rechercher : Liu, H. C.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Résumé | Results are presented showing the effect of emitter layer thickness on the shape of the spectral response of heterojunction interfacial workfunction internal photoemission detectors. The results confirm that thicker emitters increase the response at shorter wavelengths. A model is developed to explain the experimentally observed blueshift in the peak wavelength with increased emitter thickness, using a combination of hot-cold carrier scattering and phonon emission processes. The study provides a tool for designing detectors exhibiting different peak responses, as demonstrated by evaluating the design parameters for the 8–14μm spectral range. |
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| Date de publication | 2009-07 |
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| Maison d’édition | AIP Publishing |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 23004757 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 8d14dfbc-2f72-4da6-b608-21d14342f6e6 |
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| Enregistrement créé | 2018-12-17 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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