Measuring and Modeling the Scaling Trend of the RF Noise in MOSFETs

Par Conseil national de recherches du Canada

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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Conférence64th IEEE Device Research Conference, 2006
Numéro NPARC12346594
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Identificateur de l’enregistrement8e8b809f-8e05-4aa3-bec7-338ddbb9f440
Enregistrement créé2009-09-17
Enregistrement modifié2020-04-16
Date de modification :