Control of island formation on silicon surfaces using ultra-high-vacuum scanning electron microscopy
Control of island formation on silicon surfaces using ultra-high-vacuum scanning electron microscopy
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023802 |
---|---|
Auteur | Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : |
Affiliation |
|
Format | Texte, Article |
Sujet | scanning electron microscopy; in situ imaging; Si(III)-Au; liquid metal island; step bunch |
Résumé | |
Date de publication | 2000-01-01 |
Maison d’édition | Oxford Japanese Society of Microscopy |
Dans | |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 12744707 |
Exporter la notice | Exporter en format RIS |
Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Identificateur de l’enregistrement | 91297693-efcc-4678-b190-297d4682e8ae |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2023-12-22 |
- Date de modification :