| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1364/CLEO_SI.2019.SF3G.2 |
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| Auteur | Rechercher : Godfrey, Alan T. K.1; Rechercher : Kallepalli, L. N. Deepak1; Rechercher : Ratté, Jesse J.1; Rechercher : Corkum, Paul B.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | CLEO: Science and Innovations, May 5-10, 2019, San Jose, California |
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| Résumé | We present the phenomenology of blister formation by nonlinear absorption of femtosecond pulses in polyimide films, characterized by atomic force microscopy. We demonstrate a novel implementation of blisters as microlenses. |
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| Date de publication | 2019-05-10 |
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| Maison d’édition | OSA |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Identificateur de l’enregistrement | 942cfec9-63a5-4524-8a46-8e923e1b1859 |
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| Enregistrement créé | 2021-04-19 |
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| Enregistrement modifié | 2021-04-22 |
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