| Auteur | Rechercher : Hussey, R.; Rechercher : Sproule, G1; Rechercher : McCaffrey, John2; Rechercher : Driad, R.; Rechercher : Poole, Philip1; Rechercher : Landheer, Dolf1; Rechercher : Graham, Michael1; Rechercher : Springthorpe, Anthony1; Rechercher : Pakes, A.; Rechercher : Echeverria, F.; Rechercher : Skeldon, P.; Rechercher : Thompson, G. |
|---|
| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
- Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
|
|---|
| Format | Texte, Article |
|---|
| Conférence | Oxide Films Symposium, 197th Meeting of the Electrochem Soc, May 2000, Toronto |
|---|
| Numéro NPARC | 12346690 |
|---|
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
|---|
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
|---|
| Identificateur de l’enregistrement | 9d0555b2-36cc-4953-8ef2-c26e8b8fbc9b |
|---|
| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
|---|
| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
|---|
