A high resolution analytical transmission electron microscope optimized for quantitative characterization of radiation sensitive materials
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2007 |
| Dans | |
| Langue | anglais |
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| Identificateur de l’enregistrement | ad09a535-60e1-481c-bff6-d08725a1b141 |
| Enregistrement créé | 2021-09-20 |
| Enregistrement modifié | 2021-09-20 |
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