Experimental determination of Auger capture coefficients in InAs/GaAs self-assembled dots

Auteur	Rechercher : Raymond, S.¹; Rechercher : Hinzer, K.¹; Rechercher : Guo, X.¹; Rechercher : Merz, J.
Affiliation	Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
Format	Texte, Allocution
Conférence	ICPS25: 25th International Conference on the Physics of Semiconductors, 17-22 September 2000, Osaka, Japan
Note	This presentation is not published in "Proceedings of the 25th International conference on the physics of semiconductors Part I"
Numéro NPARC	12346771
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Identificateur de l’enregistrement	b57d6e1b-927b-4f6e-88a2-19c014bfd0e7
Enregistrement créé	2009-09-17
Enregistrement modifié	2020-03-03