Evaluating long-term stability and transient disturbances of a TEM
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DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927613008003 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | Microscopy and Microanalysis 2013, August 4-8, 2013, Indianapolis, Indiana, USA |
Date de publication | 2013-10-09 |
Maison d’édition | Cambridge University Press |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
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Identificateur de l’enregistrement | b718c169-1cf9-4b46-8523-4379477149ec |
Enregistrement créé | 2020-02-29 |
Enregistrement modifié | 2020-04-22 |
- Date de modification :