Compositional Redistribution in Coherent Si1-xGex Islands on Si(100)
Compositional Redistribution in Coherent Si1-xGex Islands on Si(100)
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/TNANO.2007.891818 |
---|---|
Auteur | Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1 |
Affiliation |
|
Format | Texte, Article |
Sujet | Alloy; coherent growth; dots; Ge; islands; Raman spectroscopy; Si; strain; transmission electron microscopy; X-ray diffraction |
Résumé | |
Date de publication | 2007 |
Dans | |
Numéro NPARC | 12744869 |
Exporter la notice | Exporter en format RIS |
Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Identificateur de l’enregistrement | bbeab85a-01c8-4fcc-a085-913cf7e83e6e |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-05-10 |
- Date de modification :