Non-contact characterization of carrier mobility in long-wave infrared HgCdTe films with terahertz time-domain spectroscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/TTHZ.2024.3393627
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Quantique et nanotechnologies
Bailleur de fondsRechercher : Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada; Rechercher : Canada Foundation for Innovation (CFI), the Alberta/Technical University of Munich International Graduate School for Hybrid Functional Materials (ATUMS), Alberta Innovates; Rechercher : Alberta Innovates Technology Futures (AITF) Strategic Chairs Program, the Australian Research Council; Rechercher : WA Node of the Australian National Fabrication Facility
FormatTexte, Article
Sujetcharge carrier processes; conductivity measurement; tetrahertz time-domain spectroscopy (THz-TDs); II-VI semiconductor materials
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Dans
Langueanglais
Sous presseOui
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrementc1745344-739d-44c5-9ee0-6f0019d9463f
Enregistrement créé2024-05-15
Enregistrement modifié2024-05-16
Date de modification :