Second-order susceptibility measurement of thin films by reflective second harmonic generation method - toward measurement standards in nonlinear optics
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|---|---|
| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2004 |
| Série | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
| Numéro NPARC | 12346795 |
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| Identificateur de l’enregistrement | cbb8486d-ce57-4890-84ed-51fde66ba6b5 |
| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
| Enregistrement modifié | 2023-06-22 |
- Date de modification :