Electron energy loss spectroscopy of interfacial layer formation in Gd2O3 films deposited directly on Si(001)

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1446232
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12743764
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Identificateur de l’enregistrementcde929d3-af7e-4173-b088-8129d3347b09
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2023-04-17
Date de modification :