| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2008.07.004 |
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| Auteur | Rechercher : Malac, Marek1; Rechercher : Beleggia, Marco; Rechercher : Taniguchi, Yoshifumi; Rechercher : Egerton, Ray F.1; Rechercher : Zhu, Yimei |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | electron diffraction; low-dosemicroscopy; radiation damage; TEM imaging; phase contrast; nanoparticle |
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| Résumé | Weevaluatethelow-doseperformanceofparallelnano-beamdiffraction(NBD)inthetransmission electron microscopeasamethodforcharacterizingradiationsensitivematerialsatlowelectron irradiation dose.Acriterion,analogoustoRose’s,isestablishedfordetectingadiffractionspotwith desired signal-to-noiseratio.Ourexperimentaldatashowthatadosesubstantiallylowerthaninhigh- resolution bright-fieldimagingissufficienttodeterminestructureandorientationofindividual nanoscaleobjectsembeddedinamorphousmatrix.Inaninstrumentequippedwithacoldfield- emissiongunitispossibletoformaprobewithsub-3nmdiameterandsub-0.3mradconvergenceangle with sufficientbeamcurrenttorecordadiffractionpatternwithlessthan0.2sacquisitiontime.The interpretationofNBDpatternsisidenticaltothatofselectedareadiffractionpatterns.Weillustratethe physicalprinciplesunderlyinggoodlow-doseperformanceofNBDbymeansofaphasegrating.The electron irradiationdoseneededtodetectadiffractionpeakinNBDisfoundproportionalto1/N2, where N is thenumberoflatticeplanescontributingtothepeak. |
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| Date de publication | 2008-07 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 21268180 |
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| Identificateur de l’enregistrement | d2de9766-196b-4ab4-923c-279f6919d442 |
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| Enregistrement créé | 2013-05-21 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-15 |
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