Silicon photonic chips using remote interrogation for secondary and working standards in thermometry

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/PN.2019.8819562
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 2; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 2; Rechercher : 2
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Centre de recherche en métrologie
  2. Conseil national de recherches du Canada. Électronique et photonique avancées
FormatTexte, Article
Conférence2019 Photonics North (PN), May 21-23, 2019, Quebec City, QC, Canada
Sujetsilicon photonics; thermometry; sensors; diffraction gratings; elemental semiconductors; integrated optoelectronics; silicon; temperature measurement; thermometers
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionIEEE
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrementd4b0a5a8-cf4f-4241-8d52-f3ad9a301700
Enregistrement créé2021-08-24
Enregistrement modifié2021-08-24
Date de modification :