| Auteur | Rechercher : Xu, Dan-Xia1; Rechercher : Das, Suhit R.1; Rechercher : Erickson, Lynden1; Rechercher : Naem, Abdalla |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | 1995 MRS Fall Meeting, Symposium on Materials reliability issues in microelectronics V, San Francisco, California, USA, April 17-21, 1995 |
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| Date de publication | 1995 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Numéro NPARC | 12338466 |
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| Identificateur de l’enregistrement | d55688eb-7fbc-4fbe-9d5d-b5dea48d63e4 |
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| Enregistrement créé | 2009-09-10 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-29 |
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