Characterization of the internal morphology of organic devices by Focused Ion Beam (FIB) and transmission electron microscopy (TEM)

Auteur	Rechercher : Li, Peng¹; Rechercher : Kupsta, Martin¹; Rechercher : Malac, Marek¹; Rechercher : Gardner, Sandra; Rechercher : Wu, Yilliang
Affiliation	Conseil national de recherches du Canada
Format	Texte, Allocution
Conférence	Microscopical Society of Canada Annual Meeting, June 19-21, 2013, Victoria, British Columbia, Canada
Date de publication	v. 2013-06-21
Langue	anglais
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Identificateur de l’enregistrement	d83a737a-2b07-4eea-ad64-3baf1b56017f
Enregistrement créé	2021-08-26
Enregistrement modifié	2023-03-15