Toward quantitative bright field TEM imaging of ultra thin samples

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927618008541
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
ConférenceMicroscopy & Microanalysis 2018, August 5-9, 2018, Baltimore, Maryland, United States
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrementdc6f5dec-8a2d-4c1c-a1b3-b73ede3cfd96
Enregistrement créé2020-01-21
Enregistrement modifié2024-05-15
Date de modification :