Practical hole-free phase plate imaging: principles, advantages and pitfalls

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927612004278
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
ConférenceMicroscopy & Microanalysis 2012, July 29 - August 2, 2012, Phoenix, Arizona, United States
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistremente25cd792-71d5-431c-a1ad-865bc8395cab
Enregistrement créé2020-01-23
Enregistrement modifié2024-05-15
Date de modification :