| Télécharger | - Voir le manuscrit accepté : Inelastic light scattering spectroscopy in si/SiGe nanostructures: strain, chemical composition and thermal properties (PDF, 1017 Ko)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ssc.2016.07.008 |
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| Auteur | Rechercher : Tsybeskov, L.; Rechercher : Mala, S. A.; Rechercher : Wang, X.; Rechercher : Baribeau, J.-M.1; Rechercher : Wu, X.1; Rechercher : Lockwood, D. J.2 |
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| Affiliation du nom | - Conseil national de recherches du Canada. Technologies de l'information et des communications
- Conseil national de recherches du Canada. Science des mesures et étalons
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | Nanostructures; Molecular Beam Epitaxy; Inelastic Light Scattering; Raman Scattering |
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| Résumé | We present a review of recent studies of inelastic light scattering spectroscopy in two types of Si/SiGe nanostructures: planar superlattices and cluster (dot) multilayers including first- and second-order Raman scattering, polarized Raman scattering and low-frequency inelastic light scattering associated with folded acoustic phonons. The results are used in semi-quantitative analysis of chemical composition, strain and thermal conductivity in these technologically important materials for electronic and optoelectronic devices. |
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| Date de publication | 2016-07-09 |
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| Maison d’édition | Elsevier |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 23000477 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | e7469215-77b6-45da-b380-175305bd4da2 |
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| Enregistrement créé | 2016-07-22 |
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| Enregistrement modifié | 2021-10-14 |
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