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Improved background-fitting algorithms for ionization edges in electron energy-loss spectra

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0304-3991(01)00155-3
AuteurRechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Résumé
We discuss improved procedures for fitting a power-law background to an ionization edge in an electron energy-loss spectrum. They place constraints on the background, both above and below the ionization-threshold energy, and are of particular advantage in the case of weak edges arising from low elemental concentrations. The algorithms are currently implemented as short Calculator programs for Gatan EL/P software. Their advantages and limitations are discussed, in comparison with multiple-least-squares and spatial-difference techniques.
Date de publication
Dans
  • Ultramicroscopy 92, nº 2 (1 juillet 2002) : 47–56.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Publication du CNRC
Cette publication n’est pas du CNRC

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Numéro NPARC12329163
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Identificateur de l’enregistremente8b53b2d-ec10-44e5-9aa3-9d2ea84c47a4
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-03-27
Date de modification :