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Electrical Scanning Probe Microscopy: Investigating the Inner Workings of Electronic Devices

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1080/10408430590952523
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Critical Reviews in Solid State and Material Sciences 30, nº 2 (2005) : 71–124.
Numéro NPARC12743830
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Identificateur de l’enregistremente97a6357-094a-4e44-b15e-a06425b99fb4
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-04-07
Date de modification :