Ultrahigh Vacuum Scanning Electron/Tunnelling Combined Microscope System
Ultrahigh Vacuum Scanning Electron/Tunnelling Combined Microscope System
Auteur | Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : |
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Éditeur | Rechercher : Shimizu, R.; Rechercher : Williams, D. |
Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | Microbeam Analysis 2000, 2000, Bristol |
Maison d’édition | Institute of Physics Publishing |
Numéro NPARC | 12346439 |
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Identificateur de l’enregistrement | fb208f6c-2f8b-4215-b1d2-012d3f50fa2d |
Enregistrement créé | 2009-09-17 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :