Infrared ellipsometry of GaAs epilayers on Si(100)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1561577 |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2003-03-17 |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRC-INMS-352 |
| Numéro NPARC | 8896488 |
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| Identificateur de l’enregistrement | fe858d36-4abc-4934-8be2-9e3d428c94dd |
| Enregistrement créé | 2009-04-22 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-02 |
- Date de modification :